武汉颐光科技有限公司 main business:光机电一体化、机械、电子、激光、仪器仪表、自动化控制、计算机软件技术及产品的开发、研制、技术服务、技术咨询及销售；光机电产品、仪器仪表、计算机及配件、机电零配件、光学零配件的零售与批发；机电零部件、光学零配件的加工；货物进出口、技术进出口、代理进出口（不含国家禁止或限制进出口的货物及技术）。... and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
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- 91420100077720022F
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- 存续（在营、开业、在册）
- 有限责任公司(自然人投资或控股)
- 2013-09-24
- 金丹
- 200万元人民币
- 2013-09-24 至 永久
- 武汉东湖新技术开发区
- 武汉市东湖开发区高新大道999号
- 光机电一体化、机械、电子、激光、仪器仪表、自动化控制、计算机软件技术及产品的开发、研制、技术服务、技术咨询及销售；光机电产品、仪器仪表、计算机及配件、机电零配件、光学零配件的零售与批发；机电零部件、光学零配件的加工；货物进出口、技术进出口、代理进出口（不含国家禁止或限制进出口的货物及技术）。...
| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 14201524 |  |
EOPTICS | 2014-03-18 | 科学研究；替他人研究和开发新产品；技术研究；科学实验室服务；化学研究；生物学研究；材料测试；计算机编程；信息技术咨询服务；计算机软件设计； | 查看详情 |
| 2 | 14201485 |  |
EOPTICS | 2014-03-18 | 计算机程序（可下载软件）；计算机；网络通讯设备；光通讯设备；测量装置；测量器械和仪器；计量仪器；光学器械和仪器；衍射设备（显微镜）；工业用放射设备； | 查看详情 |
| 3 | 14201461 |  |
颐光 | 2014-03-18 | 计算机程序（可下载软件）；计算机；网络通讯设备；光通讯设备；测量装置；测量器械和仪器；计量仪器；光学器械和仪器；衍射设备（显微镜）；工业用放射设备； | 查看详情 |
| 4 | 14201536 |  |
颐光 | 2014-03-18 | 技术研究；替他人研究和开发新产品；科学研究；科学实验室服务；化学研究；生物学研究；材料测试；计算机编程；信息技术咨询服务；计算机软件设计； | 查看详情 |
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN106595521A | 基于液晶调相的垂直物镜式穆勒矩阵成像椭偏仪 | 2017.04.26 | 本发明属于纳米尺度下几何参数测量装置领域，并公开了基于液晶调相的垂直物镜式穆勒矩阵成像椭偏仪，包括起 |
| 2 | CN104914497B | 一种复合波片相位延迟器优化设计方法 | 2017.03.29 | 本发明公开了一种复合波片相位延迟器优化设计方法，包括以下步骤：1)由n个四分之一零级波片共同构成复合 |
| 3 | CN106517086A | 一种大面积高分辨率宽视场在线测量装置及其测量方法 | 2017.03.22 | 本发明公开了一种面向纳米结构薄膜大面积、高分辨率、宽视场在线测量装置及测量方法。光源发出的光经过波长 |
| 4 | CN106500844A | 一种六通道分振幅高速斯托克斯偏振仪及其参数测量方法 | 2017.03.15 | 本发明公开了一种六通道分振幅高速斯托克斯偏振仪及其测量方法；依照斯托克斯向量定义开展斯托克斯参数的同 |
| 5 | CN104568765B | 一种微型化光谱椭偏仪装置和测量方法 | 2017.02.22 | 本发明公开了一种用于测量纳米薄膜样品的微型化集成式光谱椭偏仪装置，包括光源和准直镜集成模块、分光镜、 |
| 6 | CN105066889A | 一种便携式薄膜测厚仪及其膜厚测量方法 | 2015.11.18 | 本发明公开了一种便携式薄膜测厚仪及其膜厚测量方法。只需完成两次样件测量，不会增加使用者的工作量，通过 |
| 7 | CN104914497A | 一种复合波片相位延迟器优化设计方法 | 2015.09.16 | 本发明公开了一种复合波片相位延迟器优化设计方法，包括以下步骤：1)由n个四分之一零级波片共同构成复合 |
| 8 | CN104568765A | 一种微型化光谱椭偏仪装置和测量方法 | 2015.04.29 | 本发明公开了一种用于测量纳米薄膜样品的微型化集成式光谱椭偏仪装置，包括光源和准直镜集成模块、分光镜、 |
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